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    PCB電路板要做哪些環節試驗

    更新日期:2015-01-09      點擊:2032
      PCB電路板要做哪些環節試驗
      
      PCBd電路板為確保其長時間使用質量與可靠度,需進行SIR(SurfaceInsulationResistance)表麵絕緣電阻的試驗,透過其試驗方式找出PCB是否會發生MIG(離子遷移)與CAF(玻纖紗陽極性漏電)現象。對於產品的周期性來說緩不應急,而HAST是一種試驗手法也是設備名稱,HAST是提高環境應力(溫度&濕度&壓力),在不飽和濕度環境下(濕度:85%R.H.)加快試驗過程縮短試驗時間,用來評定PCB壓合&絕緣電阻,與相關材料的吸濕效果狀況,縮短高溫高濕的試驗時間(85℃/85%R.H./1000h→110℃/85%R.H./264h),PCB的HAST試驗主要參考規範為:JESD22-A110-B、JPCA-ET-01、JPCA-ET-08。
      
      PCBd電路板加速壽命模式:
      
      1、提高溫度(110℃、120℃、130℃)
      
      2、維持高濕(85%R.H.)
      
      3、施加壓力(110℃/85%/0.12MPa、120℃/85%/0.17MPa、130℃/85%/0.23MPa)
      
      4、外加偏壓(DC直流電)
      
      PCBd電路板的HAST測試條件:
      
      1、JPCA-ET-08:110、120、130℃/85%R.H./5~100V
      
      2、高TG環氧多層板:120℃/85%R.H./100V,800小時
      
      3、低誘電率多層板:110℃/85%R.H./50V/300h
      
      4、多層PCB配線材料:120℃/85%R.H/100V/800h
      
      5、低膨脹係數&低表麵粗糙度無鹵素絕緣材料:130℃/85%R.H/12V/240h
      
      6、感旋光性覆蓋膜:130℃/85%R.H/6V/100h
      
      7、COF膜用熱硬化型板:120℃/85%R.H/100V/100h
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